用 Agentic AI 加速半导体良率根因分析：Spotfire Industry Pro 网络研讨会

一场免费网络研讨会介绍如何用 Agentic AI 与半导体专用可视化加速良率异常的根因分析，现场演示基于 Spotfire® Industry Pro 开展跨领域根因调查。该平台支持不移动数据即可跨领域关联洞察，并通过 push-down compute 在数十亿数据点上扩展高性能分析。面向良率、工艺、整合工程师及晶圆厂数据分析负责人。